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[发明专利]一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法-CN202210385650.7在审
发明人：李成;万震;刘洋 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统，包括：光纤端面反射率测试子系统，通过改变两个光纤端面之间的腔长距离，采集多组干涉光谱并计算对应腔长；基于双光束干涉公式拟合多组干涉光谱并解算光纤端面的实测反射率；将实测反射率与光谱仪直接测得的光纤端面标准反射率对比，通过多项式拟合获得反射率补偿系数‑腔长的关系式；石墨烯薄膜反射率测试子系统，通过改变对准的单模光纤与光学薄膜之间的距离，采集多组干涉光谱，基于双光束干涉公式拟合干涉光谱，从而解算光学薄膜的实测反射率；及修正子系统，基于反射率补偿系数的表达式对光学薄膜的实测反射率进行修正，获得光学薄膜的修正反射率。
一种基于光学干涉光学薄膜反射率测量系统测量方法

[发明专利]一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置-CN201610973144.4在审
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置，其中：激光光源分束成两束激光，一束激光耦合进入到稳定的光学谐振腔，采用光腔衰荡技术测量高反射光学元件(反射率大于99％)的反射率或高透射光学元件(透过率大于99％)的透过率；另一束激光进入分光光度法测量光路，利用比率法测量反射/透射光学元件(反射率/透过率小于99％)的反射率/透过率。本发明方法能测量反射/透射光学元件任意的反射率/透过率，并对高反射率/透过率测量的测量精度比传统分光光度技术高至少2个数量级。
一种用于光学元件反射率透过测量综合装置

[发明专利]空间频域下生物组织光学特性参数查表方法-CN202210910971.4在审
发明人：于双;于欣;赵烟桥;邹旭彤;吴海滨;孙晓明;于晓洋 -专利权人：哈尔滨理工大学
申请日： 2022-07-29 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明空间频域下生物组织光学特性参数查表方法属于生物组织光学特性检测技术领域，具体涉及光学特性参数反演方法；该方法首先设置生物组织光学特性参数，蒙特卡罗模拟计算两个空间频率下的漫反射率值，得到漫反射率值与光学特性参数的对应关系；然后利用所述对应关系，对两个空间频率漫反射率值下的光学特性参数进行三次样条插值，获得插值后的漫反射率值与光学特性参数的对应关系；再计算漫反射率测量值与对应关系中漫反射率值的欧氏距离，并找到最小欧氏距离所对应漫反射率值；最后根据对应关系和漫反射率值，得到漫反射率测量值所对应的光学特性参数；本发明可以提升光学特性参数的反演速度，同时克服约化散射系数要远大于吸收系数的限制。
空间频域下生物组织光学特性参数方法

[发明专利]一种反射率综合测量方法-CN201010608932.6有效
发明人：李斌成;曲哲超;韩艳玲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2010-12-17 - 公布日： 2011-08-31 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种反射率综合测量方法，步骤为：连续入射激光束被分束为参考光束和探测光束，参考光束被聚焦到光电探测器直接探测，探测光束注入光学谐振腔。在测量反射率大于99％的光学元件时采用光腔衰荡技术，分别测量初始光学谐振腔输出信号的衰荡时间τ0和加入待测光学元件后的测试光学谐振腔输出信号的衰荡时间τ1，计算得到待测光学元件反射率R。在R值小于99％时采用分光光度技术测量待测光学元件反射率。移走输出腔镜，从测试镜反射的探测光被聚焦到光电探测器探测，同时记录探测光束和参考光束光强信号比值，通过定标进而得待测光学元件反射率R。该反射率测量装置可测量任意反射率光学元件，而且可对大口径光学元件反射率分布实现高分辨二维成像。
一种反射率综合测量方法

[发明专利]光学元件和显示装置-CN201711394089.4有效
发明人：吉田昇平 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：本发明提供光学元件和显示装置。提供能够实现难以观察到显示不均的显示装置的光学元件。本发明的光学元件具备多个反射率变化半反射镜和透光性部件，多个反射率变化半反射镜沿倾斜方向具有反射率不同的多个区域。多个区域至少包含位于距射出面较远的一侧的低反射率区域和位于接近射出面的一侧的高反射率区域。位于距射出面较远的一侧的反射率变化半反射镜的高反射率区域的占有面积大于位于接近射出面的一侧的反射率变化半反射镜的高反射率区域的占有面积。
光学元件显示装置

[发明专利]一种气溶胶光学厚度监测方法-CN202110285288.1有效
发明人：文刚;姚捷;张辉;黄修乾;高振宇;黄然;耿浩;代维菊;周仿荣 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2021-03-17 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种气溶胶光学厚度监测方法，方法为获取高分四号遥感数据，对其进行交叉辐射定标提高遥感辐射亮度数据准确性，计算各个波段的表观反射率数据划分浓密植被地区和非浓密植被地区。基于6S辐射传输模型建立查找表；根据短波红外波段表观反射率推算出红波段地表反射率，根据红波段地表反射率与表观反射率数据以及查找表计算浓密植被地区气溶胶光学厚度。根据MODIS地表反射率产品计算蓝波段地表反射率，根据蓝波段地表反射率与表观反射率数据以及查找表计算非浓密植被地区气溶胶光学厚度。通过分区建模的方式实现陆地所有区域的气溶胶光学厚度遥感监测。以解决不能直接将其他传感器的气溶胶光学厚度反演算法用于高分四号卫星的问题。
一种气溶胶光学厚度监测方法

[发明专利]一种遥感卫星多光谱数据的大气订正方法-CN201110119645.3有效
发明人：王爱春;傅俏燕;闵祥军;李杏朝;潘志强;韩启金 -专利权人：中国资源卫星应用中心
申请日： 2011-05-10 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：一种遥感卫星多光谱数据的大气订正方法，(1)读取数据，将数据转换为表观辐亮度数据和表观反射率数据；(2)依据表观反射率数据计算决策树法中的决策因子：比值植被指数、土壤可调植被指数和归一化水体指数，通过决策树法实现暗目标自动提取；(3)根据表观反射率数据获取上述暗目标区域的表观反射率数据，并计算大气路径反射率；(4)根据大气路径反射率和瑞利反射率比值与气溶胶光学厚度的关系，确定多光谱各波段的气溶胶光学厚度；并依据多光谱各波段的气溶胶光学厚度和瑞利散射光学厚度，确定出550nm处总的光学厚度；(5)依据上述550nm处总的光学厚度，利用查找表获取反演参数，通过辐射传输方程求解地表反射率，完成大气订正。
一种遥感卫星光谱数据大气订正方法

[发明专利]一种气溶胶光学厚度遥感反演方法-CN201910402070.2有效
发明人：杨富坤;王子峰;陈良富;陶金花;张莹;范萌;余超;顾坚斌 -专利权人：中国科学院遥感与数字地球研究所
申请日： 2019-05-13 - 公布日： 2020-09-11 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明公开一种气溶胶光学厚度遥感反演方法，解决现有方法反演精度低的问题。所述方法，包含：基于高分卫星数据，采用6S辐射传输模型，建立查找表，得到大气路径辐射项等效反射率、大气下界的半球反射率、大气透过率；基于中分辨成像光谱仪地表反射率产品，利用最优反射率技术，构建月尺度下宽幅相机地表反射率库，得到地表反射率；利用辐射传输方程计算得到表观反射率计算值；将表观反射率计算值与基于高分卫星数据计算得到的表观反射率实际值进行数值对比，得到二者差的绝对值最小时的表观反射率计算值为最优表观反射率计算值，并根据所述查找表，查表得到对应的气溶胶光学厚度。本发明可实现对陆地气溶胶光学厚度大范围、精确反演。
一种气溶胶光学厚度遥感反演方法

[发明专利]一种提高高反射光学元件缺陷检测分辨率的方法-CN201911353154.8在审
发明人：郭小红;李斌成;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-12-25 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供了一种提高高反射光学元件缺陷检测分辨率的方法，该方法包括：采用光腔衰荡技术获取高反射光学元件的反射率分布测量图；通过改进的反卷积算法对反射率分布测量图进行反卷积复原，消除光斑尺寸的影响，得到高反射光学元件的反射率分布的高分辨率真实值该方法与传统的光腔衰荡光学元件缺陷检测技术相比，采用反卷积方法对反射率分布图进行恢复，最终得到分辨率更高的光学元件反射率分布真实值结果，提高了检测精度。
一种提高反射光学元件缺陷检测分辨率方法

[发明专利]一种光学元件反射率测量仪-CN201610019827.6在审
发明人：贾宝申;吕海兵;苗心向;牛龙飞;周国瑞;刘昊;李可欣 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-13 - 公布日： 2016-04-27 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学元件反射率测量仪，用于光学元件反射率的测量。本发明的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号，电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后，得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准，测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对，获得待测光学元件的反射率。本发明结构简单，易于实现，测量精度高，且能够实现对光学元件反射率的在线测量。
一种光学元件反射率测量仪

[实用新型]一种光学元件反射率测量仪-CN201620028723.7有效
发明人：贾宝申;吕海兵;苗心向;牛龙飞;周国瑞;刘昊;李可欣 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-13 - 公布日： 2016-06-22 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光学元件反射率测量仪，用于光学元件反射率的测量。本实用新型的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号，电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后，得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准，测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对，获得待测光学元件的反射率。本实用新型结构简单，易于实现，测量精度高，且能够实现对光学元件反射率的在线测量。
一种光学元件反射率测量仪

[发明专利]一种基于近红外波段光学遥感影像的海冰密集度反演方法-CN202211052526.5在审
发明人：谢涛;陈星哲;白淑英;张雪红 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2022-08-30 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G06V20/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于近红外波段光学遥感影像海冰密集度反演方法，利用光学遥感影像计算出目标区域的大气顶层反射率；同时，利用近红外波段进行海冰海水识别，将光学遥感影像近红外波段反射率大于0.08判定为海冰，否则判定为海水；然后，对海冰区域进行像元反射率频率累计统计，采用5％区间作为置信区间即5％和95％对应的光学遥感影像的近红外波段反射率分别为纯海水和纯海冰的反射率；最后，利用光学遥感影像近红外波段反射率与像元二分模型相结合提出光学遥感影像海冰密集度反演算法该方法基于光学遥感影像近红外波段大气顶层反射率和像元二分模型，对海冰密集度进行反演，将海报密集度反演问题简化为波段之间的比值计算。
一种基于红外波段光学遥感影像密集反演方法

[发明专利]光学指纹传感器模组及其形成方法-CN201910231158.2在审
发明人：凌严;朱虹 -专利权人：上海箩箕技术有限公司
申请日： 2019-03-26 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：一种光学指纹传感器模组及其形成方法，光学指纹传感器模组包括：自发光显示面板，自发光显示面板包括指纹区和位于指纹区周围的非指纹显示区；位于自发光显示面板背面且覆盖指纹区的反光滤光层，反光滤光层对红光的反射率大于对绿光的反射率且大于对蓝光的反射率，且反光滤光层对绿光的透过率大于对红光的透过率；位于自发光显示面板背面且覆盖非指纹显示区的光学层，光学层对红光的反射率大于对绿光的反射率且大于对蓝光的反射率；位于自发光显示面板的指纹区底部的屏下指纹模组，屏下指纹模组包括光学传感器，反光滤光层位于所述自发光显示面板和光学传感器之间。所述光学指纹传感器模组的性能得到提高。
自发光显示面板反射率模组光学指纹传感器滤光层指纹区反光红光绿光光学传感器指纹显示光学层透过率蓝光指纹背面覆盖

[发明专利]一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法-CN201610972470.3有效
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法，步骤为：采用光腔衰荡技术，先测量初始光腔的衰荡信号并拟合得到初始光腔的衰荡时间。然后加入待测高反射/高透射光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从待测光学元件输出和输出腔镜输出的衰荡信号并拟合得到测试光腔的衰荡时间，经计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率；同时将待测光学元件输出的光腔衰荡信号幅值与输出腔镜输出的光腔衰荡信号幅值进行比值计算，通过定标得到高反射光学元件的透过率或高透射光学元件的反射率。该测量方法不仅可测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率，而且可对其反射率和透过率分布实现高分辨率二维成像。
一种基于光腔衰荡技术同时测量反射透射光学元件反射率透过方法

[发明专利]高反射元件在连续激光辐照下反射率和吸收实时测量方法-CN201910716817.1在审
发明人：崔浩;樊峻棋;张耀平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2019-08-05 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01M11/04 文献下载
摘要：本发明公开了高反射元件在连续激光辐照下反射率和吸收实时测量方法，采用热透镜测量技术监测高反射光学元件在激光辐照过程中吸收损耗的实时变化，采用光腔衰荡技术同时监测高反射光学元件在激光辐照过程中反射率的实时变化本发明可同时测量高反射光学元件的反射率和吸收，可监测高反射光学元件在激光辐照过程中反射率和吸收的动态变化过程，有助于评估光学元件的性能稳定性和使用寿命。
反射率高反射光学元件激光辐照过程连续激光辐照实时变化实时测量吸收高反射测量动态变化过程光腔衰荡技术性能稳定性光学元件技术监测使用寿命吸收损耗可监测热透镜监测评估

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